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机译:用于筛选超深亚微米集成电路中小延迟缺陷的测试模式选择
Mahmut Yilmaz; Krishnendu Chakrabarty; Mohammad Tehranipoor; Senior Member;
机译:集成电路中的热感知小延迟缺陷测试,可消除过大的杀伤力
机译:针对工业电路中小延迟缺陷的度量
机译:用于小延迟缺陷的测试模式分级和模式选择
机译:一种用于同步时序电路的有效测试模式松弛技术。
机译:集成电路概率选择装置。
机译:用于筛选非常深的亚微米集成电路中的小延迟缺陷的测试模式选择
机译:超高速集成电路(VHsIC)。阶段2.亚微米技术开发,互操作性标准
机译:用于筛选CMOS集成电路中开路缺陷的UV方法
机译:功率谱分析,用于集成电路器件中的缺陷筛选
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